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紫外可見分光光度計UV757CRT/UV757CRT/PC
| 型號： | UV757CRT/UV757CRT/PC |
UV757系列紫外可見分光光度計能在紫外、可見光譜區(qū)域內對樣品物質作定性和定量的分析。該產(chǎn)品可廣泛應用于臨床檢驗、生物化學、石油化工、環(huán)境保護、質量控制等部門，使理化實驗室常用的分析儀器之一。
紫外可見分光光度計UV757CRT/UV757CRT/PC產(chǎn)品概述：
品牌：上海儀電分析儀器有限公司（原上海精科科學分析儀器廠）
名稱：紫外可見分光光度計
型號：UV757CRT/UV757CRT/PC
商品簡述：
UV757系列紫外可見分光光度計能在紫外、可見光譜區(qū)域內對樣品物質作定性和定量的分析。該產(chǎn)品可廣泛應用于臨床檢驗、生物化學、石油化工、環(huán)境保護、質量控制等部門，使理化實驗室常用的分析儀器之一。
主機功能：
采用微機測量系統(tǒng)，T-A轉換，自動調整0%（T）和調整100%（T），具有GOTOλ，自動8聯(lián)樣品架，自動扣除比色皿誤差，濃度多點標定，斜率和截距設置等功能，具有RS232接口和并行打印口（打印機，另行選配）。
聯(lián)機功能：
通過RS232串行接口，可利用上層軟件作全波長掃描，時間掃描，濃度回歸方程（1次、2次、3次），多波長測試，并大大擴展測試功能（除主機功能外）。
技術指標：
● 波長范圍：200nm～1000nm
● 光源：鎢鹵素燈12V20W（） DD2.5氘燈（）
● 接收元件：光電池
● 波長大允許誤差：±0.5nm
● 波長重復性：≤0.2nm
● 光譜帶寬：2nm
● 雜散光：≤0.3%（T）（在220nm處和360nm處，以NaNO2測定）
● 透射比測量范圍：0.0%（T）～200.0% (T）
● 吸光度測量范圍：-0.301（A）～4.000(A)
● 透射比大允許誤差：±0.5%（T）
● 透射比重復性：≤0.2%（T）
● 噪聲：100%噪聲≤0.5%（T） 0%噪聲≤0.2%(T)
● 穩(wěn)定性：≤0.004A/30min
其它：
● 電源：AC220V±22V 50Hz±1Hz
